2017年2月10日金曜日

ホール測定


*ホール測定
・・・半導体の多数キャリアの密度を求める。
・・・磁束密度の測定


半導体に電流 I を流し、面に垂直に磁場 B をかけると、ローレンツ力 F が発生し、それによって多数キャリアが片側によせられる。

キャリアが片方に集結→電荷による電界ができ、ローレンツ力と電界による力がつり合う。

ホール係数は R = 1 / (qn)
ただし、q は電気素量、nはキャリア密度。

[訂正]
厚さ t が図に書かれていません。
回答に 電流 I が抜けていました。